机译:实时椭圆偏振光谱法测量铁上阻挡层的瞬时生长和变薄
机译:光谱椭圆偏振法,用于监视和控制表面,薄层和界面
机译:MBE共振腔增强光电探测器的生长,采用光谱椭偏仪进行原位反馈控制
机译:使用光谱椭偏仪原位确定用于控制AlAs / InGaAs RTD生长的光学常数
机译:单层氮化铝/氮化铟薄膜系统的光谱椭型椭圆形表征
机译:通过原位光谱椭圆偏振法在金属氧化物薄膜的等离子体增强原子层沉积过程中发现前体-表面相互作用
机译:用光谱椭偏仪研究薄应变Inas,alas和alsb层
机译:原位光谱椭偏仪作为探测薄膜生长的表面敏感工具